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Appareil à température variable pour la mesure de la dépendance en température d'un courant critique supraconducteur.

[In Japanese. / En japonais.]

Auteurs : SUZUKI M., MITSUHASHI S., FUNAYAMA K.

Type d'article : Article

Résumé

Dans cet appareil, une rampe de courant avec un temps de balayage court de 0,1 s est utilisée pour déterminer les courants critiques dans un échantillon qui a été bobiné de façon hélicoïdale sur un cylindre de cuivre dans une cellule adiabatique. La température de l'échantillon est facilement régulée dans la gamme de 4,2 K à la température de transition. Le courant de mesure maximal est 20 A. On décrit la construction et les possibilités de cet appareil, et on donne les résultats de mesure d'un fil supraconducteur multifilamentaire niobium-titane.

Détails

  • Titre original : [In Japanese. / En japonais.]
  • Identifiant de la fiche : 1993-2448
  • Langues : Japonais
  • Source : Cryogenics/ Cryog. Eng. - vol. 28 - n. 1
  • Date d'édition : 1993
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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