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FLUAGE DU CUIVRE AUX CRYOTEMPERATURES.

CREEP OF COPPER AT CRYOGENIC TEMPERATURES.

Auteurs : YEN C.

Type d'article : Article

Résumé

LE COMPORTEMENT A LONG TERME DU FLUAGE DU CUIVRE DESOXYDULE DE HAUTE CONDUCTANCE A ETE ETUDIE A 4,2 ET 77 K. A 77 K ON A OBSERVE UN FLUAGE EN REGIME PERMANENT ET LES TAUX DE FLUAGE ETAIENT DE DIZAINES D'ORDRE DE GRANDEUR PLUS ELEVES QU'ON NE S'Y ATTENDAIT D'APRES DES EXTRAPOLATIONS DU FLUAGE A LA TEMPERATURE AMBIANTE. L'EXPOSANT DE CONTRAINTE OBTENU A 77 K EST DE 2,2. L'ENERGIE APPARENTE D'ACTIVATION A 77-90 K EST D'ENVIRON 0,02 ELECTRONVOLT. A 4,2 K ON A OBSERVE UN FLUAGE TRANSITOIRE. UNE ETUDE AU MICROSCOPE ELECTRONIQUE DE TRANSMISSION DE TOUS LES ECHANTILLONS FLUES A MONTRE DES STRUCTURES CELLULAIRES CONFIRMANT L'APPARITION D'UN FLUAGE SUBSTANTIEL AUX CRYOTEMPERATURES.

Détails

  • Titre original : CREEP OF COPPER AT CRYOGENIC TEMPERATURES.
  • Identifiant de la fiche : 1985-0405
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics - vol. 24 - n. 7
  • Date d'édition : 1984

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