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Mesure des propriétés diélectriques à basse température dans le cadre du programme SMES-ETM.

Cryogenic dielectric testing performed for the SMES-ETM program.

Auteurs : WU J. L.

Résumé

Un programme d'essais très complet a été entrepris pour constituer la base de données nécessaire au projet de stockage d'énergie supraconducteur SMES-ETM. Les données recueillies concernent la rigidité diélectrique de l'hélium liquide dans une gamme s'étendant jusqu'à la température de transition lambda et l'influence sur des isolants solides de facteurs tels que le rapport surface/volume, les contraintes mécaniques, la contamination due aux cryogènes et le vieillissement.

Détails

  • Titre original : Cryogenic dielectric testing performed for the SMES-ETM program.
  • Identifiant de la fiche : 1997-2670
  • Langues : Anglais
  • Source : Advances in cryogenic engineering.
  • Date d'édition : 17/07/1996
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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