PartagerMéthode pour la mesure précise de la conductivité complexe de films minces supraconducteurs à haute température critique.
A method for the accurate measurement of the complex conductivity of high-critical temperature superconductive thin films.
Auteurs : TABER R. C., MERCHANT P., HISKES R., DICAROLIS S. A., NARBUTOVSKIH M.
Type d'article : Article
Détails
- Titre original : A method for the accurate measurement of the complex conductivity of high-critical temperature superconductive thin films.
- Identifiant de la fiche : 1993-3146
- Langues : Anglais
- Source : J. Supercond. - vol. 5 - n. 4
- Date d'édition : 08/1992
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
Liens
Voir d'autres articles du même numéro (14)
Voir la source
Indexation
-
Precision submillimeter wave laser reflection m...
- Auteurs : COHN D. R., HAN S. C., WOSKOV P. P., ZHOU B. L., FERDINAND A., GILES R. H., WALDMAN J., COOKE D. W., MUENCHAUSEN R. E.
- Date : 08/1992
- Langues : Anglais
- Source : J. Supercond. - vol. 5 - n. 4
Voir la fiche
-
Properties of high temperature superconductor l...
- Auteurs : KUBA J., PAPEZ V.
- Date : 26/04/1994
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics '94. The third international conference.
Voir la fiche
-
AUTOMATIC MEASUREMENT OF RESISTANCE OF HIGH-TEM...
- Auteurs : OUSEPH P. J.
- Date : 1989
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 60 - n. 3
Voir la fiche
-
Parallel-plate resonator of variable spacer thi...
- Auteurs : BASOVICH A. Ja., BELOV R. K., MARKELOV V. A., MAZO L. A., PAVLOV S. A., TALANOV V. V., VARGANOV A. V.
- Date : 12/1992
- Langues : Anglais
- Source : J. Supercond. - vol. 5 - n. 6
Voir la fiche
-
Magnetic penetration depth measurements in cupr...
- Auteurs : ANLAGE S. M., WU D. H.
- Date : 08/1992
- Langues : Anglais
- Source : J. Supercond. - vol. 5 - n. 4
Voir la fiche