Oscilloscope échantillonneur cryogénique automatique, à effet Josephson, fonctionnant à 55 gigahertz.
An automated 55 gigahertz cryogenic Josephson sampling oscilloscope.
Auteurs : BODIN P., JACOBSEN M. L., KUEHLE A., BINDSLEV HANSEN J., DAVIDSON A., BRADY M., OLSEN L., QUALMANN W.
Type d'article : Article
Résumé
Présentation d'un oscilloscope échantillonneur, supraconducteur, fonctionnant à 55 gigahertz, piloté par ordinateur, et utilisant des jonctions barrières Josephson niobium/niobium(2)-oxygène(5)/plomb supportant 4 kiloampères/cm2. La puce échantillon Josephson est connectée au boîtier porte-échantillon par une ligne de transmission coplanaire, grâce à une nouvelle technique de connection "flip-chip". Le couplage d'une impulsion rectangulaire de 5,6 ps, dans la ligne de transmission, a été réussi, et on a pu observer des réflexions multiples à 18,5 gigahertz ainsi qu'une réflexion parasite à 43 gigahertz.
Détails
- Titre original : An automated 55 gigahertz cryogenic Josephson sampling oscilloscope.
- Identifiant de la fiche : 1994-1396
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 64 - n. 2
- Date d'édition : 02/1993
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
Liens
Voir d'autres articles du même numéro (2)
Voir la source
Indexation
-
OSCILLATIONS STOCHASTIQUES DANS LES JONCTIONS T...
- Auteurs : GUBANKOV V. N.
- Date : 1984
- Langues : Russe
- Source : Z. eksp. teor. Fiz. - vol. 86 - n. 1
Voir la fiche
-
MAIL. UNE NOUVELLE FAMILLE DE CIRCUITS LOGIQUES...
- Auteurs : BEHA H.
- Date : 1982
- Langues : Français
- Source : Rev. polytech. - n. 1423
Voir la fiche
-
EVALUATION OF JOSEPHSON JUNCTION YIELD.
- Auteurs : YOSHIDA A., TAMURA H., HASUO S.
- Date : 1986
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 57 - n. 8
Voir la fiche
-
MOUVEMENT DE VORTEX DANS UNE JONCTION JOSEPHSON...
- Auteurs : RUDENKO E. M., NEVIRKOVEC I. P., USTINOV A. V.
- Date : 1988
- Langues : Russe
- Source : Fiz. nizk. Temp. - vol. 14 - n. 11
Voir la fiche
-
Flexible, automatic test system for characteriz...
- Auteurs : DART D. L., MACFARLANE J. C., ANDRIKIDIS C., BINKS R. A., FOLEY C. P.
- Date : 06/1992
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 63 - n. 6
Voir la fiche