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PERTES D'HYSTERESIS DANS DES SUPRACONDUCTEURS, A INTERIEUR D'ETAIN, EN FILAMENT FIN.

HYSTERESIS LOSSES IN FINE FILAMENT INTERNAL-TIN SUPERCONDUCTORS.

Auteurs : GOLDFARB R. B., EKIN J. W.

Type d'article : Article

Résumé

ON A MESURE LES PERTES D'HYSTERESIS SUR UNE SERIE DE SUPRACONDUCTEURS DE NIOBIUM-ETAIN EN FILAMENT FIN FABRIQUES SUIVANT LE PROCEDE DE L'ETAIN INTERIEUR. L'HYSTERESIS A ETE MESUREE EN FONCTION DU DIAMETRE DU FILAMENT ET DE LA SEPARATION ENTRE LES FILAMENTS EN UTILISANT UN MAGNETOMETRE A ECHANTILLON EN VIBRATION DANS LE CHAMP MAGNETIQUE TRANSVERSAL. LES PERTES ETAIENT SUPERIEURES A CE QU'ON ATTENDAIT D'APRES LE MODELE D'ETAT CRITIQUE QUI EXPRIME LA PERTE EN FONCTION DU DIAMETRE DU FILAMENT. DES MICROGRAPHIES DES SECTIONS TRANSVERSALES DU FIL QU'ON A FAIT REAGIR ONT MONTRE UNE CERTAINE LIAISON ENTRE LES FILAMENTS POUR TOUS LES FILS. ON A DETERMINE LA SEPARATION CRITIQUE ENTRE LES FILAMENTS, AU-DESSUS DE LAQUELLE ON S'ATTENDAIT A CE QUE LES PERTES SUIVENT LE MODELE D'ETAT CRITIQUE.

Détails

  • Titre original : HYSTERESIS LOSSES IN FINE FILAMENT INTERNAL-TIN SUPERCONDUCTORS.
  • Identifiant de la fiche : 1987-0855
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics - vol. 26 - n. 8
  • Date d'édition : 1986

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