PROPRIETES DES COMPOSITES DE FILAMENTS SUPRACONDUCTEURS EXTREMEMENT FINS DE NIOBIUM-TITANE, DE DIAMETRES INFERIEURS A 0,1 MICROMETRE.

ON A MESURE LA TEMPERATURE CRITIQUE ET LES PROPRIETES ELECTROMAGNETIQUES DE COMPOSITES DE NIOBIUM-TITANE/CUIVRE AVEC FILAMENTS SUPRACONDUCTEURS TRES FINS, PREPARES PAR LE PROCEDE DE COMPACTAGE MULTIPLE. ON A DETERMINE LA DENSITE DE COURANT CRITIQUE CORRESPONDANTE, LA FORCE D'ANCRAGE DU VOLUME, LA RESISTANCE TRANSVERSALE EFFECTIVE, L'HYSTERESIS ET LES PERTES PAR COURANT PARASITE A DIFFERENTES AMPLITUDES ET FREQUENCES DE CHAMP JUSQU'A 50 HERTZ. LES DENSITES DE COURANT CRITIQUE TRES ELEVEES DE FACON INATTENDUE A DES CHAMPS FAIBLES ET LA FORCE MAXIMALE D'ANCRAGE DU VOLUME OBTENUE A DES CHAMPS INHABITUELLEMENT FAIBLES ONT ETE EXPLIQUES THEORIQUEMENT PAR L'EXISTENCE D'UN RESEAU DE LIGNES DE FLUX A UNE DIMENSION DANS LES FILAMENTS.