Partager

Document IIF

UTILISATION DE THERMOMETRES MINIATURES A DIODE DE SILICIUM POUR LA MESURE DES TEMPERATURES ENTRE 1 ET 300 K.

THE USE OF MINIATURE SILICON DIODE THERMOMETERS FOR THE MEASUREMENT OF TEMPERATURES BETWEEN 1 AND 300 K.

Auteurs : RAO M. G., SCURLOCK R. G.

Résumé

ON TROUVE PLUSIEURS TYPES DE DETECTEURS POUR MESURER LES TEMPERATURES ENTRE 1 ET 300 K. LORSQU'ON CHOISIT UN THERMOMETRE POUR UNE APPLICATION DONNEE, ON DOIT CONSIDERER ATTENTIVEMENT SA PRECISION, SON COUT DE REMPLACEMENT, LA REPRODUCTIBILITE DE SES RESULTATS, SA SENSIBILITE ET SA FACILITE D'EMPLOI. LES AUTEURS PRESENTENT DIFFERENTS ASPECTS DU DEVELOPPEMENT, LES CARACTERISTIQUES THERMOMETRIQUES ET LES AVANTAGES DES THERMOMETRES MINIATURES A DIODE AU SILICIUM, MESURANT DES TEMPERATURESENTRE 1 ET 300 K A 0,03 K PRES.

Documents disponibles

Format PDF

Pages : 126-130

Document à numériser, disponible sous dix jours

  • Prix public

    20 €

  • Prix membre*

    Gratuit

* meilleur tarif applicable selon le type d'adhésion (voir le détail des avantages des adhésions individuelles et collectives)

Détails

  • Titre original : THE USE OF MINIATURE SILICON DIODE THERMOMETERS FOR THE MEASUREMENT OF TEMPERATURES BETWEEN 1 AND 300 K.
  • Identifiant de la fiche : 1988-0924
  • Langues : Anglais
  • Source : Development in refrigeration, refrigeration for development. Proceedings of the XVIIth international Congress of Refrigeration.
  • Date d'édition : 24/08/1987
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

Liens


Voir d'autres communications du même compte rendu (509)
Voir le compte rendu de la conférence

Indexation