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Couches minces d'YBCO recuites sous faible pression partielle d'oxygène : influence de l'épaisseur des couches minces sur la densité de courant critique.

Film thickness dependence of critical-current density for YBCO films post-annealed at a low oxygen partial pressure.

Auteurs : MOGRO-CAMPERO A., TURNER L. G.

Type d'article : Article

Résumé

La densité de courant critique à 77 K, qui dépasse 1 MA/cm2 pour les couches les plus minces, diminue lorsque l'épaisseur de la couche mince augmente, jusqu'à environ 0,4 micromètre. Une bonne corrélation inverse entre la résistivité à température ambiante et la densité de courant critique à 77 K a pu être mise en évidence. Comparaison entre ces résultats et ceux obtenus précédemment sur des échantillons ayant subi un recuit, à 850 deg C, sous oxygène à 1 atmosphère (au lieu de 750 deg C et 29 pascals).

Détails

  • Titre original : Film thickness dependence of critical-current density for YBCO films post-annealed at a low oxygen partial pressure.
  • Identifiant de la fiche : 1994-2076
  • Langues : Anglais
  • Source : J. Supercond. - vol. 6 - n. 1
  • Date d'édition : 02/1993
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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