COURANT CRITIQUE DE STRUCTURES A COUPLAGE FAIBLE SUPRACONDUCTRICES SUR UNE SURFACE DE SEMI-CONDUCTEUR DEGENERE DANS LA LIMITE < SALE >.
[In Russian. / En russe.]
Auteurs : ALFEEV V. N., GRICENKO N. I.
Type d'article : Article
Résumé
ON A OBTENU L'EXPRESSION DU COURANT CRITIQUE DANS DES STRUCTURES COPLANAIRES QUASI-BIDIMENSIONNELLES FORMEES PAR DEPOT DE PELLICULES SUPRACONDUCTRICES SUR LA SURFACE DE SEMI-CONDUCTEUR DEGENERE EN S'APPUYANT SUR LA THEORIE MICROSCOPIQUE DANS LE CAS OU LE PRINCIPAL MECANISME D'ECHANGE DE PORTEURS ENTRE LES PELLICULES SUPRACONDUCTRICES EST LA DISPERSION DES PORTEURS SUR LES IMPURETES DU SEMICONDUCTEUR. ON PRESENTE L'INFLUENCE DE LE TEMPERATURE SUR LE COURANT CRITIQUE ET L'ON COMPARE AVEC LES RESULTATS EXPERIMENTAUX.
Détails
- Titre original : [In Russian. / En russe.]
- Identifiant de la fiche : 1984-0487
- Langues : Russe
- Source : Fiz. nizk. Temp. - vol. 9 - n. 6
- Date d'édition : 1983
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
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- Thèmes : Supraconduction
- Mots-clés : Semi-conducteur; Calcul; Supraconducteur; Impureté; Film; Courant critique
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