Partager

Courants critiques dans des films minces d'YBCO(7-) contenant des dislocations hélicoïdales.

Critical currents in YBCO(7-) thin films containing screw dislocations.

Auteurs : DOUWES H., KES P. H., GERBER C., MANNHART J.

Type d'article : Article

Résumé

On considère l'ancrage des flux par dislocations et vacances (d'oxygène) dans l'YBCO(7-). On donne les expressions pour les forces d'ancrage élémentaires correspondantes et on évalue leurs forces. Afin de vérifier le modèle, on a mesuré le courant critique sur un film avec une certaine densité de dislocation hélicoïdale, au moyen des mesures de transport et d'aimantation irréversible. A des champs faibles (0,05 et 0,075 T), la dépendance en fonction de la température de la densité de courant critique mesurée pourrait être bien décrite par l'ancrage dû aux dislocations hélicoïdales, alors qu'à des champs supérieurs (allant jusqu'à 6 T), la dépendance en température semble plutôt associée à l'ancrage dû aux vacances d'oxygène, bien que la corrélation soit moins satisfaisante.

Détails

  • Titre original : Critical currents in YBCO(7-) thin films containing screw dislocations.
  • Identifiant de la fiche : 1994-0043
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics - vol. 33 - n. 5
  • Date d'édition : 05/1993

Liens


Voir d'autres articles du même numéro (16)
Voir la source

Indexation