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Densité de courant critique et comportement d'ancrage de fils de niobium-titane multifilamentaires. 2. Fils non traités thermiquement.

[In Japanese. / En japonais.]

Auteurs : SUZUKI M., MITSUHASHI S.

Type d'article : Article

Résumé

On donne les résultats expérimentaux d'échantillons avec matrice de cupronickel, non traités thermiquement, dont le diamètre des filaments se situe entre 0,061 et 0,314 micromètre. On étudie les valeurs de densité de courant critique en fonction du diamètre des filaments et du champ vers 4,2 K. On donne les courbes d'ancrage réduit ainsi que la force d'ancrage maximale. La densité de courant critique et les propriétés d'ancrage de ces échantillons sont comparées à celles des échantillons traités thermiquement.

Détails

  • Titre original : [In Japanese. / En japonais.]
  • Identifiant de la fiche : 1993-2447
  • Langues : Japonais
  • Source : Cryogenics/ Cryog. Eng. - vol. 28 - n. 1
  • Date d'édition : 1993
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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