ESSAI DES TRANSDUCTEURS DE PRESSION A JAUGE DE CONTRAINTE JUSQU'A 3,5 MEGAPASCALS A DES CRYOTEMPERATURES, DANS DES CHAMPS MAGNETIQUES ATTEIGNANT 6 T.
TESTING OF STRAIN-GAUGE PRESSURE TRANSDUCERS UP TO 3.5 MEGAPASCAL AT CRYOGENIC TEMPERATURES AND IN MAGNETIC FIELDS UP TO 6 T.
Auteurs : CERUTTI G., MAGHENZANI R., MOLINAR G. F.
Type d'article : Article
Résumé
ON A DETERMINE LES CARACTERISTIQUES DE QUATRE TRANSDUCTEURS DE PRESSION A JAUGE DE CONTRAINTE COMMERCIAUX CONVENANT AUX MESURES DE 4,2 A 293 K, EN PRESENCE DE CHAMPS MAGNETIQUES ATTEIGNANT 6 T. LA PRESSION LA PLUS ELEVEE ETAIT DE 3,5 MEGAPASCALS. LES ESSAIS ONT MONTRE QUE SI L'ON NE FAIT PAS DE CORRECTIONS LES INCERTITUDES PEUVENT ATTEINDRE 19 % DE L'ECHELLE TOTALE. LES TRANSDUCTEURS DOIVENT ETRE ETALONNES INDIVIDUELLEMENT DANS LES CONDITIONS DE FONCTIONNEMENT : DE CETTE FACON LES INCERTITUDES DES MESURES DE LA PRESSION PEUVENT HABITUELLEMENT ETRE MAINTENUES AU-DESSOUS DE 1 % DE L'ECHELLE TOTALE.
Détails
- Titre original : TESTING OF STRAIN-GAUGE PRESSURE TRANSDUCERS UP TO 3.5 MEGAPASCAL AT CRYOGENIC TEMPERATURES AND IN MAGNETIC FIELDS UP TO 6 T.
- Identifiant de la fiche : 1984-2229
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 23 - n. 10
- Date d'édition : 1983
Liens
Voir d'autres articles du même numéro (9)
Voir la source
Indexation
- Thèmes : Mesures thermodynamiques
- Mots-clés : Cryotempérature; Étalonnage; Mesure; Pression; Champ magnétique
-
A sensitive capacitance thermometer at low temp...
- Auteurs : PENNING F. C., MAIOR M. M., WIEGERS S. A. J., KEMPEN H. van, MAAN J. C.
- Date : 07/1996
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 67 - n. 7
Voir la fiche
-
Possible design for a thin wire resistance ther...
- Auteurs : NARA K., KATO H., OKAJI M.
- Date : 06/1991
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 31 - n. 6
Voir la fiche
-
High-field, high-pressure, and low-temperature ...
- Auteurs : MATSUDA Y., KURODA N., NISHINA Y.
- Date : 12/1992
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 63 - n. 12
Voir la fiche
-
Low temperature thermometry in high magnetic fi...
- Auteurs : BRANDT B. L., LIU D. W., RUBIN L. G.
- Date : 01/1999
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 70 - n. 1
Voir la fiche
-
BEHAVIOUR OF THICK FILM RESISTORS AS LOW TEMPER...
- Auteurs : BOSCH W. A.
- Date : 1986
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 26 - n. 1
Voir la fiche