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Evaluation des circuits intégrés du minuteur CMOS en vue d'applications cryogéniques.

Evaluation of CMOS timer integrated circuits for cryogenic use.

Auteurs : HARUYAMA T., KIRSCHMAN R. K.

Type d'article : Article

Résumé

On a étudié des circuits intégrés du minuteur CMOS (semiconducteur d'oxyde métallique complémentaire) de type "555" et "551", en vue de les utiliser en cryogénie comme oscillateurs résistance-capacité. Dans un premier temps, on a comparé le comportement de 28 circuits intégrés différents pour des températures entre la température ambiante et la température de l'azote liquide, dans plusieurs conditions de fonctionnement. On a ensuite mesuré le comportement de 6 de ces circuits intégrés en fonction de la température, pour la gamme 80-320 K. Tous les circuits ont fonctionné de façon satisfaisante jusqu'à 80 K, avec des variations de fréquence de plus ou moins 2% à environ 3 kilohertz. Des essais effectués sur 7 circuits intégrés à la température de l'hélium liquide ont montré qu'ils n'étaient pas utilisables à cette température.

Détails

  • Titre original : Evaluation of CMOS timer integrated circuits for cryogenic use.
  • Identifiant de la fiche : 1993-1863
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics - vol. 31 - n. 12
  • Date d'édition : 12/1991

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