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Document IIF

Influence des variations de température sur un oscillateur LC électronique à basse température lors de la mesure du taux de résistivité résiduelle.

Effect of temperature variation on cold electronics based LC oscillator for RRR measurement.

Numéro : pap. n. 0111

Auteurs : KARUNANITHI R., SAGAR P., SINGH G. A.

Résumé

The development and performance analysis of a Cold Electronic LC oscillator is discussed. This is a part of the sensor system being developed for a Residual Resistivity Ratio (RRR) measurement system. In this paper, the effect of temperature variation on cold electronics based LC Oscillator is analysed. This variation in temperature causes oscillator to change its operating frequency. Certain additional harmonics are also introduced into the output waveform at the lower temperatures. This cold electronics based LC oscillator is used as the signal conditioning element for a Residual Resistivity Ratio (RRR) measuring sensor. LabVIEW 11.0 software is used to log the frequency variations for different temperature from 300 K to 4.2 K.

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Format PDF

Pages : 5 p.

Disponible

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    20 €

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Détails

  • Titre original : Effect of temperature variation on cold electronics based LC oscillator for RRR measurement.
  • Identifiant de la fiche : 30021768
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics 2017. Proceedings of the 14th IIR International Conference: Dresden, Germany, Mai 15-19, 2017.
  • Date d'édition : 15/05/2017
  • DOI : http://dx.doi.org/10.18462/iir.cryo.2017.0111

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