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Méthode de mesure précise de l'émissivité hémisphérique totale de l'aluminium à basse température.

[In Japanese. / En japonais.]

Auteurs : HIGANO M., OZEKI Y., NAKAMURA K., IBE M., MASUDA H.

Type d'article : Article

Résumé

Une nouvelle méthode calorimétrique transitoire a été mise au point pour augmenter la précision de mesure de l'émissivité hémisphérique totale des métaux à basse température. La précision dépend principalement de la perte de chaleur introduite par un thermocouple qui supporte l'échantillon et mesure sa température. La perte de chaleur déduite de l'analyse du transfert thermique combiné en rayonnement et en conduction, est inférieure à 1 % de la perte de puissance totale de l'échantillon. Les valeurs de l'émissivité hémisphérique totale pour un fil et pour une plaque recuite sont en bon accord entre elles et sont proches des valeurs extrapolées à partir des mesures au-dessus de la température ambiante. L'augmentation de l'émissivité hémisphérique totale pour une plaque non recuite peut provenir des défauts de surface de type Beilby produits par le polissage mécanique.

Détails

  • Titre original : [In Japanese. / En japonais.]
  • Identifiant de la fiche : 1996-2032
  • Langues : Japonais
  • Source : Cryogenics/ Cryog. Eng. - vol. 30 - n. 2
  • Date d'édition : 1995
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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