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MICROSCOPE A EFFET TUNNEL A BALAYAGE POUR LES BASSES TEMPERATURES, LES CHAMPS MAGNETIQUES INTENSES ET LA SPECTROSCOPIE RESOLUE DANS L'ESPACE.

SCANNING TUNNELLING MICROSCOPE FOR LOW TEMPERATURE, HIGH MAGNETIC FIELD, AND SPATIALLY RESOLVED SPECTROSCOPY.

Auteurs : FEIN A. P., KIRTLEY J. R., FEENSTRA R. M.

Type d'article : Article

Résumé

ON DECRIT UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL A BALAYAGE SUSCEPTIBLE DE FONCTIONNER A BASSE TEMPERATURE, T = 400 MILLIK, ET DANS DES CHAMPS MAGNETIQUES INTENSES, B = 8 T. L'ELECTRONIQUE CORRESPONDANTE, SOUS LA COMMANDE D'UN IBM PC/AT, DONNE LA SPECTROSCOPIE RESOLUE DANS L'ESPACE, COURANTE, PERMETTANT DE CARACTERISER DES PROPRIETES TELLES QUE LES BANDES D'ENERGIE INTERDITE SUPRACONDUCTRICES ET LA DENSITE LOCALE DES ETATS A LA SURFACE. ON PRESENTE DES RESULTATS POUR ILLUSTRER L'UTILITE DE LA SPECTROSCOPIE RESOLUE DANS L'ESPACE A BASSE TEMPERATURE ET DANS DES CHAMPS MAGNETIQUES INTENSES.

Détails

  • Titre original : SCANNING TUNNELLING MICROSCOPE FOR LOW TEMPERATURE, HIGH MAGNETIC FIELD, AND SPATIALLY RESOLVED SPECTROSCOPY.
  • Identifiant de la fiche : 1988-0489
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 58 - n. 10
  • Date d'édition : 1987
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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