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Réduction des pertes hystérétiques dans les fils de niobium-étain produits par diffusion interne.

[In Japanese. / En japonais.]

Auteurs : KUBO Y., EGAWA K., NAGAI T., UCHIKAWA F., TAGUCHI O., MORITA M.

Type d'article : Article

Résumé

Recently, the authors have successfully elucidated the growth mechanism of bridging, which was the cause of generating large losses in internal-tin processed wires. Bridging was completely suppressed by decreasing the diameter of the tin core to 82% and losses in those wires were decreased to 172-193 kilojoules/m3.

Détails

  • Titre original : [In Japanese. / En japonais.]
  • Identifiant de la fiche : 1998-0780
  • Langues : Japonais
  • Source : Cryogenics/ Cryog. Eng. - vol. 31 - n. 6
  • Date d'édition : 1996
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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