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SYSTEME D'ACQUISITION DE DONNEES, D'UN COUT PEU ELEVE, POUR LA CARACTERISATION DE TRANSPORT DES SUPRACONDUCTEURS A HAUTE TEMPERATURE CRITIQUE.

LOW COST DATA ACQUISITION SYSTEM FOR TRANSPORT CHARACTERIZATION OF HIGH-CRITICAL TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS.

Auteurs : TESSLER L. R.

Type d'article : Article

Résumé

LE SYSTEME PEUT MESURER LA DEPENDANCE DE TEMPERATURE DE LA RESISTANCE ET DU COURANT CRITIQUE. IL UTILISE LA METHODE DE PHASE DE COURANT ALTERNATIF A 4 POINTS POUR ELIMINER LESEFFETS DE LA RESISTANCE DE L'AMENEE DE COURANT ET DE LA RESISTANCE DE CONTACT AINSI QUE LES TENSIONS THERMIQUES. ON MET EN EVIDENCE QUELQUES AVANTAGES DE CETTE TECHNIQUE PAR RAPPORT A D'AUTRES TECHNIQUES A COURANT CONTINU. LA TEMPERATUREEST REGULEE PAR LE SYSTEME AVEC UNE RESOLUTION ET UNE PRECISION DE 0,1 ET PLUS OU MOINS 0,5 K, RESPECTIVEMENT, QUI SONT LES LIMITES DU THERMOMETRE DE PLATINE UTILISE. LES TENSIONS DANS L'ECHANTILLON PEUVENT ETRE MESUREES AVEC UNE RESOLUTION QUI EST MEILLEURE QUE 5 NANOVOLTS.

Détails

  • Titre original : LOW COST DATA ACQUISITION SYSTEM FOR TRANSPORT CHARACTERIZATION OF HIGH-CRITICAL TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS.
  • Identifiant de la fiche : 1991-0066
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 61 - n. 2
  • Date d'édition : 1990
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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