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SYSTEME D'EVAPORATION A ULTRAVIDE AVEC CAPACITE DE MESURE DES BASSES TEMPERATURES.

ULTRAHIGH-VACUUM EVAPORATION SYSTEM WITH LOW TEMPERATURE MEASUREMENT CAPABILITY.

Auteurs : ORR B. G., GOLDMAN A. M.

Type d'article : Article

Résumé

ON A CONSTRUIT UN SYSTEME D'ULTRAVIDE ET ON L'A EQUIPE DE SOURCES DE RAYONS MOLECULAIRES ET D'UN MATERIEL D'ANALYSE DE LA SURFACE AINSI QUE DE DIFFRACTION DES ELECTRONS A HAUTE ENERGIE PAR REFLEXION. AVEC CE MATERIEL, DES PELLICULES PEUVENT ETRE DEVELOPPEES ENTRE 0,01 ET 1 NANOTORR AVEC DES TEMPERATURES DU SUBSTRAT DE 4,2 A 20 K. UNE MODIFICATION DU SYSTEME PERMETTRA LE DEVELOPPEMENT A DES TEMPERATURES ELEVEES SUIVIES PAR DES MESURES A BASSE TEMPERATURE IN SITU. LA CONCEPTION DE CET APPAREIL PERMET DES MESURES DANS UN ENVIRONNEMENT DANS LEQUEL LA TEMPERATURE PEUT ETRE REGULEE ENTRE 0,3 ET 300 K ET LE CHAMP MAGNETIQUE DE 0,1 MICROTESLA A 6 T.

Détails

  • Titre original : ULTRAHIGH-VACUUM EVAPORATION SYSTEM WITH LOW TEMPERATURE MEASUREMENT CAPABILITY.
  • Identifiant de la fiche : 1986-0017
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 56 - n. 6
  • Date d'édition : 1985
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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