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Thermomètres à résistance à couche mince de platine : étalonnage et détermination de la relation mathématique température-résistance.

Thin film platinum resistance thermometers: calibration and mathematical description of temperature (resistance) function.

Auteurs : DIMITROV D. A., ZAHARIEV A. L., GEORGIEV J. K., KOLEV G. A., PETRINSKI J. N., IVANOV T.

Type d'article : Article

Résumé

Etude de thermomètres à résistance à couche mince de platine, de trois dimensions différentes. Mise en forme mathématique des résultats dans le domaine de température 77-300 K. Détermination du nombre optimal de termes dans les deux types de polynômes utilisés pour la représentation analytique des résultats expérimentaux.

Détails

  • Titre original : Thin film platinum resistance thermometers: calibration and mathematical description of temperature (resistance) function.
  • Identifiant de la fiche : 1995-2831
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics - vol. 34 - n. 6
  • Date d'édition : 06/1994

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