Partager

UN SYSTEME COMPLET DE CONGELATION, FRACTURE ET ENROBAGE POUR LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE A BASSE TEMPERATURE.

A COMPREHENSIVE FREEZING, FRACTURING AND COATING SYSTEM FOR LOW TEMPERATURE SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.

Auteurs : ROBARDS A. W., CROSBY P.

Type d'article : Article de périodique

Résumé

ON EXAMINE LES EXIGENCES DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE A BASSE TEMPERATURE. ON DECRIT LE DISPOSITIF DE TRANSFERT SOUS VIDE POUVANT AVOIR UNE INTERFACE AVEC UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE CAMBRIDGE S600. LES ECHANTILLONS CONGELES SONT RETIRES IMMEDIATEMENT POUR ETRE TRANSFERES DANS LE DISPOSITIF DE TRANSFERT SOUS VIDE, TRANSPORTES SUR LA TABLE FROIDE D'UNE CHAMBRE DE FRACTURE-ENROBAGE CONCUE SPECIALEMENT A CET EFFET, FRACTURES ET ENDUITS PAR PULVERISATION, RAMENES DANS LE DISPOSITIF DE TRANSFERT ET PLACES SUR LA PLATINE FROIDE A REGULATION DE TEMPERATURE DU MICROSCOPE. EN UTILISANT DE L'ARGON GAZEUX FROID, ON A PROCEDE A L'ENROBAGE SANS DETERIORATION.

Détails

  • Titre original : A COMPREHENSIVE FREEZING, FRACTURING AND COATING SYSTEM FOR LOW TEMPERATURE SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.
  • Identifiant de la fiche : 1981-0265
  • Langues : Anglais
  • Source : Scanning Electron Microsc. - n. 2
  • Date d'édition : 1979
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

Liens


Voir d'autres articles du même numéro (1)
Voir la source

Indexation