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APPAREIL DE MESURE DE SUSCEPTIBILITE EN COURANT ALTERNATIF POUR LA DETERMINATION DE LA TEMPERATURE CRITIQUE DES CRISTAUX, ECHANTILLONS FRITTES ET FILMS SUPRACONDUCTEURS HT.

ALTERNATING CURRENT SUSCEPTIBILITY APPARATUS FOR MEASURING THE TRANSITION TEMPERATURE OF HIGH-CRITICAL TEMPERATURE CRYSTALS, SINTERED SAMPLES AND FILMS.

Auteurs : XENIKOS D. G., LEMBERGER T. R.

Type d'article : Article

Résumé

DESCRIPTION D'UN APPAREIL SIMPLE DE MESURE DE SUSCEPTIBILITE EN COURANT ALTERNATIF UTILISABLE POUR LA DETERMINATION DE LA TEMPERATURE DE TRANSITION SUPRACONDUCTRICE DANS LE DOMAINE 4,2-300 K. L'APPAREILLAGE A DE GRANDES POSSIBILITES ET IL A ETE UTILISE POUR ETUDIER DES MONOCRISTAUX DE YBACUO(7-) DE HAUTE QUALITE SE PRESENTANT SOUS DES VOLUMES DE L'ORDRE DE 0,00002 CM3, DES ECHANTILLONS POLYCRISTALLINS FRITTES, BEAUCOUP PLUS GROS, DU MEME COMPOSE, ET EGALEMENT DES COUCHES MINCES DEPOSEES SUR DES SURFACES DE 1 CM2.

Détails

  • Titre original : ALTERNATING CURRENT SUSCEPTIBILITY APPARATUS FOR MEASURING THE TRANSITION TEMPERATURE OF HIGH-CRITICAL TEMPERATURE CRYSTALS, SINTERED SAMPLES AND FILMS.
  • Identifiant de la fiche : 1990-0486
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 60 - n. 5
  • Date d'édition : 1989
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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