Document IIF
Conception et essais concernant la partie basse température d'un microscope à balayage à taux de vide ultra élevé.
Design and testing of low temperature part of an UHV–SPM microscope.
Numéro : pap. n. 66
Auteurs : FROLEC J., VONKA J., HANZELKA P., et al.
Résumé
We have developed low temperature part of an ultra high vacuum scanning probe microscope (UHV-SPM) working at variable temperature within the range from 20 K to 700 K. To achieve the required temperature range, a flow cooling system using cryogenic helium (~5 K) as a coolant was designed. The system consists of a flow cryostat and a flexible low-loss transfer line connecting a Dewar vessel with the flow cryostat. We have also tested liquid nitrogen (~ 77 K) as an alternative low-cost coolant. Using nitrogen, the microscope can operate at temperatures of about 100 K and higher. As the flow of the coolant through the cryostat can cause thermally induced two-phase flow fluctuations resulting in instability in temperatures, preliminary tests were done in order to find ways of avoiding the temperature oscillations and optimising the cooling process.
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Détails
- Titre original : Design and testing of low temperature part of an UHV–SPM microscope.
- Identifiant de la fiche : 30011359
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics 2014. Proceedings of the 13th IIR International Conference: Prague, Czech Republic, April 7-11, 2014.
- Date d'édition : 07/04/2014
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Indexation
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Thèmes :
Applications des gaz liquéfiés;
Autres applications des cryotempératures - Mots-clés : Basse température; Hélium liquide; Vide; Conception; Microscopie; Essai
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