Partager

COUCHES MINCES TEXTUREES ET EPITAXIEES DE MATERIAUX SUPRACONDUCTEURS A HAUTE TEMPERATURE CRITIQUE : CONTROLE ET CARACTERISATION DE LA CROISSANCE CRISTALLINE.

Auteurs : PERRIN A., GUILLOUX-VIRY M., KARKUT M. G.

Type d'article : Article

Résumé

ON DEFINIT LES CARACTERISTIQUES DE < BONNE > QUALITE DES COUCHES MINCES DE MATERIAUX SUPRACONDUCTEURS A HAUTE TEMPERATURE CRITIQUE, ET ON DECRIT BRIEVEMENT LES METHODES UTILES POUR LES OBTENIR, TOUT EN SOULIGNANT L'IMPORTANCE DE LA CROISSANCE EPITAXIALE OU, AU MOINS, EXTREMEMENT TEXTUREE DES COUCHES MINCES. ON PASSE EN REVUE UN CERTAIN NOMBRE DE TECHNIQUES PERMETTANT LA CARACTERISATION DE LA CROISSANCE DES CRISTAUX DES COUCHES, ET NOTAMMENT UNE VARIETE DE CONFIGURATIONS DE DIFFRACTION DES RAYONS X, DE DIFFRACTION STANDARD DES ELECTRONS ET LA TECHNIQUE RHEED, AINSI QUE LES EXPERIENCES DE DIFFUSION RETROGRADE DE RUTHERFORD. ON DONNE DES EXEMPLES D'APPLICATION POUR LE SYSTEME YBCO PARCE QU'IL A ETE LE PLUS LARGEMENT UTILISE.

Détails

  • Titre original : COUCHES MINCES TEXTUREES ET EPITAXIEES DE MATERIAUX SUPRACONDUCTEURS A HAUTE TEMPERATURE CRITIQUE : CONTROLE ET CARACTERISATION DE LA CROISSANCE CRISTALLINE.
  • Identifiant de la fiche : 1991-2419
  • Langues : Français
  • Source : Vide Couches minces - vol. 46 - n. 254
  • Date d'édition : 1990
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

Liens


Voir la source

Indexation