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INFLUENCE DU PROCEDE DE PRESSION INTERMEDIAIRE SUR LA DENSITE DE COURANT CRITIQUE DES BANDES SUPRACONDUCTRICES DE BISMUTH-PLOMB-STRONTIUM-CALCIUM-OXYDE DE CUIVRE.

[In Japanese. / En japonais.]

Auteurs : YAMADA Y.

Type d'article : Article

Résumé

ON A ETUDIE L'INFLUENCE D'UN PROCEDE DE PRESSION INTERMEDIAIRE SUR LES PROPRIETES SUPRACONDUCTRICES DES BANDES SU-PRACONDUCTRICES BISMUTH-PLOMB-STRONTIUM-CALCIUM-CUIVRE-OXYDE, GAINEES D'ARGENT. LA DENSITE DE COURANT CRITIQUE A ETE AMELIOREE PAR L'EFFET D'UNE PRESSION UNIAXIALE ET DU FRITTAGE APRES LE FRITTAGE INITIAL. LA DENSITE DE TRANSPORT DE COURANT CRITIQUE MAXIMALE A 77 K, DANS UN CHAMP MAGNETIQUE NUL, A ETE EVALUEE A 290 A/MM2, ET A 4,2 K, DANS UN CHAMP MAGNETIQUE NUL, A 1.500 A/MM2. ON A MONTRE QUE LA DENSITE DE COURANT CRITIQUE A 4,2 K ET 12 T ETAIT DE 500 A/MM2 LORSQUE LE CHAMP MAGNETIQUE A ETE APPLIQUE PARALLELEMENT A LA LARGEUR DE LA BANDE, ET DE 300 A/MM2 DANS LE CAS D'UN CHAMP MAGNETIQUE APPLIQUE PERPENDICULAIREMENT.

Détails

  • Titre original : [In Japanese. / En japonais.]
  • Identifiant de la fiche : 1991-2395
  • Langues : Japonais
  • Source : Cryogenics/ Cryog. Eng. - vol. 25 - n. 2
  • Date d'édition : 1990
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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