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IRREGULARITE DANS LA ZONE DU FILAMENT DE NIOBIUM-TITANE ET RELATION ENTRE LES CARACTERISTIQUES DU CHAMP ELECTRIQUE ET DU COURANT.

IRREGULARITY IN NIOBIUM-TITANIUM FILAMENT AREA AND ELECTRIC FIELD VERSUS CURRENT CHARACTERISTICS.

Auteurs : EKIN J. W.

Type d'article : Article

Résumé

IL EXISTE UNE CORRELATION ENTRE L'IRREGULARITE DANS LA ZONE DU FILAMENT ET LA FORME D'UNE RELATION ENTRE LE CHAMP ELECTRIQUE DU SUPRACONDUCTEUR (E) ET LE COURANT (I). LA FORME DE LA CARACTERISTIQUE E-I EST QUANTIFIEE PAR LE PARAMETRE DE TRANSITION DE RESISTIVITE, N. DE FAIBLES VALEURS DE N, INFERIEURES A 20 ENVIRON SONT EN CORRELATION AVEC UNE LARGE REPARTITION DU DIAMETRE DU FILAMENT, TANDIS QUE DES VALEURS DE N SUPERIEURES A 50 CORRESPONDENT A UNE REPARTITION PLUS DE 2,5 FOIS PLUS FAIBLE. ON PROPOSE QUE LA VALEUR DE N POUR UN CHAMP FAIBLE (CONSTANT) SOIT UTILISEE COMME INDICE DE LA QUALITE DU FILAMENT DANS L'EVALUATION DE DIFFERENTS SUPRACONDUCTEURS POUR DES APPLICATIONS PRATIQUES. ON PROPOSE AUSSI UN MODELE POUR EXPLIQUER CET EFFET EN CE QUI CONCERNE UN COURANT CRITIQUE DU FILAMENT ABAISSE LOCALEMENT QUI FORCE LE COURANT A SE TRANSFERER A DES FILAMENTS VOISINS A TRAVERS LE MATERIEL NORMAL DE LA MATRICE.

Détails

  • Titre original : IRREGULARITY IN NIOBIUM-TITANIUM FILAMENT AREA AND ELECTRIC FIELD VERSUS CURRENT CHARACTERISTICS.
  • Identifiant de la fiche : 1988-2184
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics - vol. 27 - n. 11
  • Date d'édition : 1987

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