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MESURES DE LA RESISTANCE ELECTRIQUE A HAUTE PRESSION ET BASSE TEMPERATURE A L'AIDE D'UNE CELLULE DIAMANT-ENCLUME.

ELECTRICAL RESISTANCE MEASUREMENTS AT HIGH PRESSURE AND LOW TEMPERATURE USING A DIAMOND-ANVIL CELL.

Auteurs : SAKAI N., KAJIWARA T.

Type d'article : Article

Résumé

L'ASSEMBLAGE D'ECHANTILLONS CONSISTANT EN ELECTRODES DE PLAQUES DE CUIVRE ET DE PELLICULE DE POLYMERE A ETE UTILISE POUR UNE METHODE A DEUX SONDES MODIFIEE. LES MESURES DE LA RESISTANCE ONT ETE EFFECTUEES A DES PRESSIONS ATTEIGNANT 25 GPASCAL ET DES TEMPERATURES ATTEIGNANT 1,7 K EN UTILISANT UNE CELLULE DIAMANT-ENCLUME ENTRAINEE PAR DE L'HELIUM GAZEUX. CETTE METHODE A ETE APPLIQUEE POUR RECHERCHER LA TRANSITION DE PHASE INDUITE PAR LA PRESSION DANS L'IODE ET LA TRANSITION SUPRACONDUCTRICE DANS DES PELLICULES DE SILICIUM AMORPHE HYDROGENE.

Détails

  • Titre original : ELECTRICAL RESISTANCE MEASUREMENTS AT HIGH PRESSURE AND LOW TEMPERATURE USING A DIAMOND-ANVIL CELL.
  • Identifiant de la fiche : 1983-0064
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 53 - n. 4
  • Date d'édition : 1982
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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