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Microdéfauts dans des échantillons d'YBCO préparés par texture fondue refroidie assez rapidement.

Microdefects in relatively fast cooling melt texture growth YBCO specimen.

Auteurs : CHOW J. C. L., FUNG P. C. W., DU Z. L., YU T. F., MOK Y. C.

Type d'article : Article

Résumé

Etude, par les auteurs, de la microstructure d'un échantillon massif d'YBCO préparé suivant une version simplifiée du procédé par texture fondue. En utilisant un microscope électronique à transmission de 200 kilovolts et un simple diamant de vitrier pour découper l'échantillon, ils ont obtenu des micrographies montrant clairement des franges d'interférence cristalline espacées d'environ 13 angströms. Les limites entre zônes claires et sombres, dues vraisemblablement à des variations de la composition cristalline, coïncident avec la présence de fautes d'empilement, joints de grains et autres dislocations. Cet échantillon, contenant beaucoup de micro-défauts, a un courant critique de transport de 17.500 A/cm2.

Détails

  • Titre original : Microdefects in relatively fast cooling melt texture growth YBCO specimen.
  • Identifiant de la fiche : 1995-0021
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics - vol. 34 - n. 3
  • Date d'édition : 03/1994

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