PartagerRésumé
The authors present a new concept of a scanning-laser microscope that is integrated inside an encapsulated cryogenic sample stage. All the components of the microscope, i.e., a laser diode, the deflection unit, and the focusing optics, are cooled to the temperature of the sample under investigation.
Détails
- Titre original : Scanning-laser microscope for cryogenic applications.
- Identifiant de la fiche : 1998-0779
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 68 - n. 2
- Date d'édition : 02/1997
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
Liens
Voir d'autres articles du même numéro (2)
Voir la source
Indexation
- Thèmes : Autres applications des cryotempératures
- Mots-clés : Microscopie; Laser; Cryogénie
-
Low temperature scanning laser microscope for s...
- Auteurs : ZHURAVEL A. P., SIVAKOV A. G., LUKASHENKO A. V., DMITRENKO I. M.
- Date : 1996
- Langues : Anglais
Voir la fiche
-
A novel cryogenic scanning laser microscope tes...
- Auteurs : HOLM J., MYGIND J.
- Date : 09/1995
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 66 - n. 9
Voir la fiche
-
Design and implementation of a low temperature ...
- Auteurs : GROBER R. D., HARRIS T. D., TRAUTMAN J. K., BETZIG E.
- Date : 03/1994
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 65 - n. 3
Voir la fiche
-
CRYOGENIC MONOCRYSTALLINE SILICON FABRY-PEROT C...
- Auteurs : RICHARD J. P., HAMILTON J. J.
- Date : 10/1991
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 62 - n. 10
Voir la fiche
-
Characterization of piezoceramic crosses with l...
- Auteurs : HELFRICH J. A., ADENWALLA S., KETTERSON J. B., ZHITOMIRSKY G. A.
- Date : 10/1995
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 66 - n. 10
Voir la fiche