PartagerRésumé
Le microscope a été réalisé avec une résolution spatiale inférieure à 5 micromètres en vue d'observations in-situ sur puces des propriétés opérationnelles de circuits conventionnels et supraconducteurs. L'appareil repose sur la détection de la réponse électrique du circuit à un dépôt de chaleur très localisé induit par un laser à semiconducteur produisant une longueur d'onde de lumière de 675 nanomètres. Le microscope peut fonctionner dans la gamme de température de 2 à 300 K à l'aide d'un régulateur de température standard.
Détails
- Titre original : A novel cryogenic scanning laser microscope tested on Josephson tunnel junctions.
- Identifiant de la fiche : 1996-2095
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 66 - n. 9
- Date d'édition : 09/1995
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
Liens
Voir d'autres articles du même numéro (2)
Voir la source
Indexation
-
Thèmes :
Supraconduction;
Autres applications des cryotempératures - Mots-clés : Électronique; Microscopie; Laser; Jonction Josephson; Cryogénie
-
VOLTAGE CONTRAST AT 6 K IN A SCANNING ELECTRON ...
- Auteurs : SADORF H.
- Date : 1987
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 27 - n. 11
Voir la fiche
-
Low temperature scanning laser microscope for s...
- Auteurs : ZHURAVEL A. P., SIVAKOV A. G., LUKASHENKO A. V., DMITRENKO I. M.
- Date : 1996
- Langues : Anglais
Voir la fiche
-
Technologie des films minces pour dispositifs s...
- Auteurs : KAWASAKI M.
- Date : 1996
- Langues : Japonais
- Source : Cryogenics/ Cryog. Eng. - vol. 31 - n. 11
Voir la fiche
-
Evolution des technologies d'emballage pour les...
- Auteurs : SUZUKI H.
- Date : 2009
- Langues : Japonais
- Source : Journal of the Cryogenic Society of Japan - vol. 44 - n. 6
Voir la fiche
-
Scanning-laser microscope for cryogenic applica...
- Auteurs : KITTEL A., STAGGE P., PARISI J.
- Date : 02/1997
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 68 - n. 2
Voir la fiche