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Microscope de force atomique à basse température et sans contact muni d'un dispositif rapide de changement d'échantillon.

Low-temperature noncontact atomic-force microscope with quick sample and cantilever exchange mechanism.

Auteurs : SUEHIRA N., TOMIYOSHI Y., SUGAWARA Y., et al.

Type d'article : Article

Résumé

The authors present the design and performance of a noncontact atomic-force microscope (AFM) operating at low temperatures (LTNCAFM). For the first time, a "top bath" cryostat is used to avoid long-distance translation of the AFM unit, while protecting the fragile optical fiber, and to reduce outgassing. The top bath cryostat is optimized by using three radiation shields with two shutters. The AFM unit is cooled down to 5 K for 14 h with 4.6 l liquid helium.

Détails

  • Titre original : Low-temperature noncontact atomic-force microscope with quick sample and cantilever exchange mechanism.
  • Identifiant de la fiche : 2003-0555
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 72 - n. 7
  • Date d'édition : 07/2001
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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