PartagerMicroscope de force à balayage sous ultravide à basse température.
A low temperature ultrahigh vacuum scanning force microscope.
Auteurs : HUG H. J., STIEFEL B., SCHENDEL P. J. A. van, et al.
Type d'article : Article
Résumé
The system allows scanning probe microscopy measurements at temperatures between 6 and 400 K and in magnetic fields up to 7 T. Cantilevers and samples can be prepared in UHV and transferred to the microscope. The authors describe some technical details of the system and present first measurements performed at different temperatures and in various scanning force microscopy operation modes.
Détails
- Titre original : A low temperature ultrahigh vacuum scanning force microscope.
- Identifiant de la fiche : 2000-2353
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 70 - n. 9
- Date d'édition : 09/1999
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
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