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Microscope photothermique pour supraconducteurs à haute température critique et pour ondes à densité de charge.

Photothermal microscope for high-critical temperature superconductors and charge density waves.

Auteurs : WU X. D., KINO G. S., FANTON J. T., KAPITULNIK A.

Type d'article : Article

Résumé

Les auteurs ont mis au point une nouvelle méthode photothermique pour l'étude des transitions de phase électroniques associées à la supraconductivité haute température et aux ondes à densité de charge. Le déplacement de phase de l'onde thermique fournit le coefficient de diffusivité thermique anisotrope de l'échantillon. L'amplitude du signal photothermique est sensible aux transitions de phase électroniques de seconde espèce et donne une mesure directe de l'effet des fluctuations thermodynamiques au voisinage des transitions. Cette technique à haute définition sans contact est bien adaptée à la mesure d'échantillons petits et fragiles. On a obtenu un bon accord entre les résultats expérimentaux et la théorie des transitions de phase du deuxième ordre pour les deux phénomènes étudiés.

Détails

  • Titre original : Photothermal microscope for high-critical temperature superconductors and charge density waves.
  • Identifiant de la fiche : 1994-2082
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 64 - n. 11
  • Date d'édition : 11/1993
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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