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Microscopie de force magnétique à basse température.

Low temperature magnetic force microscopy.

Auteurs : HUG H. J., MOSER A., JUNG T., FRITZ O., WADAS A., PARASHIKOV I., GUNTHERODT H. J.

Type d'article : Article

Résumé

Les auteurs ont construit un microscope de force à balayage à basse température permettant de mesurer les forces avec ou sans contact en utilisant les modes en courant continu de la microscopie de force. Les capacités de leur instrument sont démontrées sur un disque magnéto-optique à température ambiante et à 77 K. A l'aide d'une pointe constituée d'un film mince ferromagnétique, la topographie et le champ de fuite micromagnétique de l'échantillon ont pu être mesurés.

Détails

  • Titre original : Low temperature magnetic force microscopy.
  • Identifiant de la fiche : 1994-2080
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 64 - n. 10
  • Date d'édition : 10/1993
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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