PartagerPrincipes de base de la mesure de la résistance électrique à basse température.
[In Japanese. / En japonais.]
Auteurs : YOTSUYA T.
Type d'article : Article
Détails
- Titre original : [In Japanese. / En japonais.]
- Identifiant de la fiche : 1993-3058
- Langues : Japonais
- Sujet : Généralités
- Source : Cryogenics/ Cryog. Eng. - vol. 27 - n. 3
- Date d'édition : 1992
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
Liens
Voir d'autres articles du même numéro (4)
Voir la source
Indexation
-
Sintered diamond anvil high-pressure cell for e...
- Auteurs : AKAHAMA Y., KOBAYASHI M., KAWAMURA H., ENDO S.
- Date : 07/1993
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 64 - n. 7
Voir la fiche
-
ANISOTROPIE DE LA RESISTIVITE ELECTRIQUE DE MON...
- Auteurs : VOLKENSTEJN N. V.
- Date : 1981
- Langues : Russe
- Source : Fiz. nizk. Temp. - vol. 7 - n. 9
Voir la fiche
-
L'influence des hétérogénéités de la structure ...
- Auteurs : KOUROV N. I.
- Date : 11/1992
- Langues : Russe
- Source : Fiz. nizk. Temp. - vol. 18 - n. 11
Voir la fiche
-
A new method of surface resistance measurement ...
- Auteurs : LIANG C., PHILLIPS L., SUNDELIN R.
- Date : 07/1993
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 64 - n. 7
Voir la fiche
-
PRODUCING TEMPERATURES DOWN TO 0.9 K AND ITS ME...
- Auteurs : CHAUDHURI N.
- Date : 1978
- Langues : Anglais
- Source : Indian J. Cryog. - vol. 3 - n. 4
Voir la fiche