Résumé
Les auteurs décrivent la conception et les propriétés de diffraction de rayons X de monocristaux de silicium cryorefroidis. D'abord, on discute les aspects thermomécaniques et techniques du refroidissement du cristal à basse température. On est amené à deux géométries de base de refroidissement : le refroidissement interne et le refroidissement par le côté. Ensuite, on décrit et on discute des tests expérimentaux de ces deux schémas de refroidissement au National Synchrotron Light Source, Etats-Unis, sur les faisceaux X25 et X17. Finalement, les problèmes techniques liés à l'intégration du refroidissement cryogénique sur des faisceaux de l'ESRF, France, sont présentés.
Détails
- Titre original : Cryogenic cooling of monochromators.
- Identifiant de la fiche : 1993-1250
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 63 - n. 1 (IIA)
- Date d'édition : 01/1992
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
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