Partager

RESISTANCE A PELLICULE EPAISSE DANS LA THERMOMETRIE A RESISTANCE A BASSE TEMPERATURE DANS DES CHAMPS MAGNETIQUES INTENSES.

THICK FILM RESISTORS IN LOW TEMPERATURE RESISTANCE THERMOMETRY IN HIGH MAGNETIC FIELDS.

Auteurs : KOPPETZKI N.

Type d'article : Article

Résumé

DANS LE DOMAINE AU-DESSOUS DE 20 K, LE COEFFICIENT THERMIQUE DE RESISTANCE EST COMPARABLE A CELUI DES THERMOMETRES A RESISTANCE COURANTS. ON OBSERVE QUE LA MODIFICATION DE LA RESISTANCE PAR L'ACTION DU CHAMP MAGNETIQUE EST FAIBLE ET INDEPENDANTE DE LA DIRECTION DU CHAMP MAGNETIQUE. ON MONTRE QUE DANS UN CHAMP MAGNETIQUE INTENSE L'ERREUR DE LA TEMPERATURE DUE A LA MAGNETORESISTANCE EST FAIBLE EN COMPARAISON DES DETECTEURS UTILISES FREQUEMMENT. ON INDIQUE QUE LES RESISTANCES A PELLICULE EPAISSE OFFRENT UNE SOLUTION DE RECHANGE INTERESSANTE DANS LA THERMOMETRIE A RESISTANCE CRYOGENIQUE DANS LA LIMITE DES CHAMPS MAGNETIQUES INTENSES.

Détails

  • Titre original : THICK FILM RESISTORS IN LOW TEMPERATURE RESISTANCE THERMOMETRY IN HIGH MAGNETIC FIELDS.
  • Identifiant de la fiche : 1984-2226
  • Langues : Anglais
  • Source : Cryogenics - vol. 23 - n. 10
  • Date d'édition : 1983

Liens


Voir d'autres articles du même numéro (9)
Voir la source

Indexation