COMPORTEMENT ET THERMOMETRIE PRECISE DES THERMOMETRES A RESISTANCE DE CARBONE-VERRE A BASSE TEMPERATURE, DANS DES CHAMPS MAGNETIQUES ATTEIGNANT 7 T.
BEHAVIOUR AND ACCURATE THERMOMETRY OF CARBON-GLASS RESISTANCE THERMOMETERS AT LOW TEMPERATURES AND IN MAGNETIC FIELDS UP TO 7 T.
Résumé
ON ETUDIE LE COMPORTEMENT DES THERMOMETRES A RESISTANCE DE CARBONE-VERRE A DES TEMPERATURES DE 3,41 A 20 K DANS DES CHAMPS MAGNETIQUES ATTEIGNANT 7 T. ON MONTRE QUE LA PROPORTION DE TRANSFORMATIONS DE LA RESISTANCE DUES A L'APPLICATION D'UN CHAMP MAGNETIQUE EN FONCTION DE LA TEMPERATURE ET DE L'INTENSITE DU CHAMP PEUT ETRE DECRITE PAR UNE EQUATION. LES ERREURS DE TEMPERATURE DUES A LA MAGNETORESISTANCE PEUVENT ETRE CORRIGEES A 20 MILLIK PRES.
Détails
- Titre original : BEHAVIOUR AND ACCURATE THERMOMETRY OF CARBON-GLASS RESISTANCE THERMOMETERS AT LOW TEMPERATURES AND IN MAGNETIC FIELDS UP TO 7 T.
- Identifiant de la fiche : 1987-1705
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 27 - n. 2
- Date d'édition : 1987
Liens
Voir d'autres articles du même numéro (5)
Voir la source
Indexation
- Thèmes : Mesures thermodynamiques
- Mots-clés : Thermomètre; Cryotempérature; Thermométrie; Résistance électrique; Champ magnétique
-
LOW-TEMPERATURE THERMOMETRY IN HIGH MAGNETIC FI...
- Auteurs : BRANDT B. L., RUBIN L. G., SAMPLE H. H.
- Date : 1988
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 59 - n. 4
Voir la fiche
-
THIN-FILM PLATINUM RESISTANCE THERMOMETER FOR U...
- Auteurs : HARUYAMA T., YOSHIZAKI R.
- Date : 1986
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 26 - n. 10
Voir la fiche
-
BEHAVIOUR OF THICK FILM RESISTORS AS LOW TEMPER...
- Auteurs : BOSCH W. A.
- Date : 1986
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 26 - n. 1
Voir la fiche
-
THERMOMETRY IN HIGH MAGNETIC FIELDS AT LOW TEMP...
- Auteurs : NAUGHTON M. J.
- Date : 1983
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 54 - n. 11
Voir la fiche
-
THIN FILM PLATINUM RESISTANCE THERMOMETER FOR M...
- Auteurs : DIMITROV D. A.
- Date : 1990
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 30 - n. 4
Voir la fiche