CONTRASTE DE TENSION A 6 K DANS UN MICROSCOPE A BALAYAGE.
VOLTAGE CONTRAST AT 6 K IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE.
Auteurs : SADORF H.
Type d'article : Article
Résumé
ON A CONCU ET ESSAYE UN ASSEMBLAGE POUR LES MESURES DE CONTRASTE DE TENSION DANS UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE DE CIRCUITS ET DISPOSITIFS INTEGRES A UNE BASSE TEMPERATURE QUELCONQUE. L'ASSEMBLAGE COMPREND UNE PLATINE POUR ECHANTILLON A BASSE TEMPERATURE ET UNE COMBINAISON INTEGREE D'UN ANALYSEUR ELECTRONIQUE SECONDAIRE ET D'UNE CRYOPOMPE LOCALE. DES SIGNAUX DE JONCTIONS JOSEPHSON DE COMMUTATION DE L'ORDRE DU MILLIVOLT ONT ETE MESURES AVEC LA SONDE ELECTRONIQUE. LES EFFETS NOCIFS DE LA CONDENSATION OU DE LA CONTAMINATION PAR LE FAISCEAU ELECTRONIQUE A 6 K ONT ETE PRATIQUEMENT ELIMINES.
Détails
- Titre original : VOLTAGE CONTRAST AT 6 K IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE.
- Identifiant de la fiche : 1988-2204
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 27 - n. 11
- Date d'édition : 1987
Liens
Voir d'autres articles du même numéro (6)
Voir la source
Indexation
-
A novel cryogenic scanning laser microscope tes...
- Auteurs : HOLM J., MYGIND J.
- Date : 09/1995
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 66 - n. 9
Voir la fiche
-
LIQUID HELIUM COOLED SAMPLE STAGE FOR SCANNING ...
- Auteurs : SEIFERT H.
- Date : 1982
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics - vol. 22 - n. 12
Voir la fiche
-
EFFETS QUANTIQUES DANS LES CERAMIQUES SUPRACOND...
- Auteurs : VERKIN B. I.
- Date : 1987
- Langues : Russe
- Source : Fiz. nizk. Temp. - vol. 13 - n. 9
Voir la fiche
-
Design and implementation of a low temperature ...
- Auteurs : GROBER R. D., HARRIS T. D., TRAUTMAN J. K., BETZIG E.
- Date : 03/1994
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 65 - n. 3
Voir la fiche
-
SCANNING TUNNELLING MICROSCOPE FOR LOW TEMPERAT...
- Auteurs : FEIN A. P., KIRTLEY J. R., FEENSTRA R. M.
- Date : 1987
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 58 - n. 10
Voir la fiche