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Document IIF

EXTENSOMETRES A HAUTE RESOLUTION POUR EMPLOI SOUS CONDITIONS CRYOGENIQUES.

HIGH RESOLUTION EXTENSOMETERS FOR USE IN CRYOGENIC ENVIRONMENT.

Auteurs : KOMAREK P., et al.

Résumé

LES MESURES DE DEPLACEMENTS A L'ECHELLE MICROMETRIQUE SONT ESSENTIELLES (CONTROLE OPERATIONNEL DE MACHINES, ESSAIS MECANIQUES). PAR RAPPORT AUX MESURES DE DEPLACEMENTS A TEMPERATURE AMBIANTE, LES CONDITIONS CRYOGENIQUES MENENT A UNE PLUS GRANDE COMPLEXITE. L'ARTICLE TRAITE DU DEVELOPPEMENT D'EXTENSOMETRES FABRIQUES SELON LA TECHNOLOGIE DES JAUGES DILATOMETRIQUES, EN UTILISANT LES PRINCIPES DES TRANSDUCTEURS DE DEPLACEMENT. LES DONNEES D'ETALONNAGE ET LEUR DERIVE SONT REPRESENTEES. LA PERFORMANCE D'EXTENSOMETRES A HAUTE RESOLUTION DANS LE CAS DE STRUCTURES SOUMISES A DES CONDITIONS DE FATIGUE EST ANALYSEE. CES EXTENSOMETRES SONT COURAMMENT UTILISES SOUS DE PUISSANTS CHAMPS MAGNETIQUES ET A BASSE TEMPERATURE AVEC UN HAUT DEGRE DE FIABILITE. LES RESULTATS OPTIMISES SONT DONNES.

Documents disponibles

Format PDF

Pages : 248-252

Document à numériser, disponible sous dix jours

  • Prix public

    20 €

  • Prix membre*

    Gratuit

* meilleur tarif applicable selon le type d'adhésion (voir le détail des avantages des adhésions individuelles et collectives)

Détails

  • Titre original : HIGH RESOLUTION EXTENSOMETERS FOR USE IN CRYOGENIC ENVIRONMENT.
  • Identifiant de la fiche : 1992-2026
  • Langues : Anglais
  • Source : New challenges in refrigeration. Proceedings of the XVIIIth International Congress of Refrigeration, August 10-17, 1991, Montreal, Quebec, Canada.
  • Date d'édition : 10/08/1991
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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