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Microscope à balayage à effet tunnel à basse température pour l'étude de nanostructures fabriquées artificiellement.

Low-temperature scanning tunnelling microscope for use on artificially fabricated nanostructures.

Auteurs : WILDOER J. W. G., ROY A. J. A. van, KEMPEN H. van, HARMANS C. J. P. M.

Type d'article : Article

Résumé

Afin de pouvoir positionner la pointe de lecture au-dessus de la structure à observer, une stratégie d'exploration a été mise au point. L'article décrit la conception et le fonctionnement du microscope et démontre la méthode d'oxploration.

Détails

  • Titre original : Low-temperature scanning tunnelling microscope for use on artificially fabricated nanostructures.
  • Identifiant de la fiche : 1995-3377
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 65 - n. 9
  • Date d'édition : 09/1994
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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