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Microscope à balayage à effet tunnel basse température pour microscopie et spectroscopie à émission d'électrons balistiques.

Low-temperature scanning tunnelling microscope for ballistic electron emission microscopy (BEEM) and spectroscopy.

Auteurs : HENDERSON G. N., FIRST P. N., GAYLORD T. K., GLYTSIS E. N., RICE B. J., DANTZSCHER P. L., GUTHRIE D. K., HARRELL L. E., CAVE J. S.

Type d'article : Article

Résumé

Les aspects particuliers concernent : 1) le fonctionnement dans un dewar de stockage à hélium liquide au-dessous de 6 K ; 2) une étendue de mise au point latérale de 5 mm à basse température ; et 3) un taux de dérive latérale inférieur à 0,2 nm/h aux plus basses températures. Pour la spectroscopie à émission d'électrons balistiques, la très grande stabilité de mise au point du microscope permet une mesure prolongée du signal en un point précis de l'échantillon.

Détails

  • Titre original : Low-temperature scanning tunnelling microscope for ballistic electron emission microscopy (BEEM) and spectroscopy.
  • Identifiant de la fiche : 1996-0677
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 66 - n. 1
  • Date d'édition : 01/1995
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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