Système de mesure de température hautement précise et instantanée pour les applications cryogéniques.
A high-accuracy instantaneous temperature measurement system for cryogenic applications.
Auteurs : LI S. G., CHEN L. F., CHEN H., WU Y. Y.
Résumé
This system consists of a Compaq 486 computer, a digital memory-scope, two isolated measurement pods, some cutomized miniature diode thermometers and copper-constantan thermocouples. The temperature can be measured at a speed of 20 microS word with an accuracy of 0.3 K for absolute temperature measurement, 0.18 K for temperature difference measurement and a resolution of 0.07 K.
Détails
- Titre original : A high-accuracy instantaneous temperature measurement system for cryogenic applications.
- Identifiant de la fiche : 1999-2171
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics and refrigeration. Proceedings of ICCR '98.
- Date d'édition : 21/04/1998
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
Liens
Voir d'autres communications du même compte rendu (88)
Voir le compte rendu de la conférence
-
A study on fractal fluctuation characteristics ...
- Auteurs : ZHANG P., WU Y. Y., XU Y. X., et al.
- Date : 22/04/2003
- Langues : Anglais
- Source : Cryogenics and refrigeration. Proceedings of ICCR 2003.
Voir la fiche
-
Techniques for attainment, control, and calibra...
- Auteurs : SCHLICHTING H., MENZEL D.
- Date : 07/1993
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 64 - n. 7
Voir la fiche
-
Cryopumping of atomic hydrogen.
- Auteurs : LUPPOV V. G., MERTIG M., ROSER T., GUILDER B. S. van, VUARIDEL B., MELNIK Yu. M., PRUDKOGLYAD A. F.
- Date : 11/1991
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 62 - n. 11
Voir la fiche
-
Cryogenic apparatus for scattering and phase eq...
- Auteurs : LONDONO J. D., COCHRAN H. D., BIENKOWSKI P. R., SHAH V. M.
- Date : 01/1993
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 64 - n. 1
Voir la fiche
-
The NIST high accuracy scale for absolute spect...
- Auteurs : LARASON T. C., BRUCE S. S., CROMER C. L.
- Date : 03/1996
- Langues : Anglais
- Source : J. Res. NIST - vol. 101 - n. 2
Voir la fiche