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Dispositif intégré de microscopie à balayage à effet tunnel cryogénique et de préparation de l'échantillon.

Integrated cryogenic scanning tunnelling microscopy and sample preparation system.

Auteurs : TESSMER S. H., HARLINGEN D. J. van, LYDING J. W.

Type d'article : Article

Résumé

Le dispositif, capable de fonctionner entre la température ambiante et 1,5 K, a été réalisé et essayé avec succès. Un ensemble pointe-échantillon de conception nouvelle peut être introduit sur le microscope et descendu dans une enceinte cryogénique sans casser le vide.

Détails

  • Titre original : Integrated cryogenic scanning tunnelling microscopy and sample preparation system.
  • Identifiant de la fiche : 1995-3376
  • Langues : Anglais
  • Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 65 - n. 9
  • Date d'édition : 09/1994
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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