PartagerDispositif intégré de microscopie à balayage à effet tunnel cryogénique et de préparation de l'échantillon.
Integrated cryogenic scanning tunnelling microscopy and sample preparation system.
Auteurs : TESSMER S. H., HARLINGEN D. J. van, LYDING J. W.
Type d'article : Article
Résumé
Le dispositif, capable de fonctionner entre la température ambiante et 1,5 K, a été réalisé et essayé avec succès. Un ensemble pointe-échantillon de conception nouvelle peut être introduit sur le microscope et descendu dans une enceinte cryogénique sans casser le vide.
Détails
- Titre original : Integrated cryogenic scanning tunnelling microscopy and sample preparation system.
- Identifiant de la fiche : 1995-3376
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 65 - n. 9
- Date d'édition : 09/1994
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
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