Microscope à balayage à effet tunnel fonctionnant à température cryogénique variable en ultravide.
Cryogenic variable temperature ultrahigh vacuum scanning tunnelling microscope.
Auteurs : FOLEY E. T., KAM A. F., LYDING J. W.
Type d'article : Article
Résumé
A cryogenic variable temperature ultrahigh vacuum (UHV) scanning tunnelling microscope (STM) has been developed. This design utilizes a novel vibration isolation that provides an active thermal link to the cooling source without the standard tradeoff of compromising mechanical isolation. A welded bellows serves as the basis for the vibration isolation system. This bellows houses a heat exchanger which uses helium gas to form a thermal link between the STM and the cryogenic. This STM is fully integrated into a multichamber UHV STM system now in place in the authors' laboratory and atomic resolution operation is demonstrated from 11 to 300 K.
Détails
- Titre original : Cryogenic variable temperature ultrahigh vacuum scanning tunnelling microscope.
- Identifiant de la fiche : 2003-0008
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 71 - n. 9
- Date d'édition : 09/2000
- Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.
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Indexation
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Thèmes :
Mesures thermodynamiques;
Transport et manipulation des fluides cryogéniques - Mots-clés : Ultravide; Hélium; Cryostat; Microscopie; Effet tunnel; Cryogénie
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Cryogenic ultrahigh vacuum installation for sca...
- Auteurs : EDELMAN V. S., KHLYUSTIKOV I. N.
- Date : 1996
- Langues : Anglais
- Source : Proceedings of the 21st international conference on low temperature physics.
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- Auteurs : TESSMER S. H., HARLINGEN D. J. van, LYDING J. W.
- Date : 09/1994
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 65 - n. 9
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New variable low-temperature scanning tunnellin...
- Auteurs : SMITH A. R., SHIH C. K.
- Date : 03/1995
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- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 66 - n. 3
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A very low temperature scanning tunnelling micr...
- Auteurs : MOUSSY N., COURTOIS H., PANNETIER B.
- Date : 01/2001
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 72 - n. 1
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- Date : 10/1994
- Langues : Anglais
- Source : Rev. sci. Instrum. - vol. 65 - n. 10
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