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Document IIF

Microscopie électronique à balayage : un outil puissant pour la caractérisation des matériaux lyophilisés.

Scanning electron microscopy: a powerful tool for characterization of lyophilised materials.

Auteurs : JALANTI T., REY L.

Résumé

Analytical scanning electron microscopy (SEM and EDX) yields information on geometric and chemical (morphochemical) structure of solid material. Specific problems and solutions related to the observation and specimen preparation of lyophilised material are described.

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Format PDF

Pages : 2007-3

Disponible

  • Prix public

    20 €

  • Prix membre*

    Gratuit

* meilleur tarif applicable selon le type d'adhésion (voir le détail des avantages des adhésions individuelles et collectives)

Détails

  • Titre original : Scanning electron microscopy: a powerful tool for characterization of lyophilised materials.
  • Identifiant de la fiche : 2008-2753
  • Langues : Anglais
  • Source : New Ventures in Freeze-Drying
  • Date d'édition : 07/2007

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