Une nouvelle méthode de caractérisation de la microstructure interne de produits congelés.

Auteurs : NDOYE F. T., VICENT V., VERBOVEN P., et al.

Type d'article : Article de périodique

Résumé

Le développement d'une nouvelle méthode directe de caractérisation par microtomographie à rayons X à température contrôlée a permis de visualiser et de quantifier les changements microstructuraux 3D et la distribution des cristaux de glace dans des tissus de pomme congelés à trois vitesses différentes (rapide: 18,5 °C/min, intermédiaire; 12,6 °C/min et lente: 2 °C/min). Il a été mis au point une méthodologie nouvelle pour L'acquisition d'images microtomographiques sur des produits à l 'état congelé ainsi qu'une technique de traitement des images basée sur des coefficients d'atténuation de référence correspondant aux différents éléments constitutifs des produits. La méthode développée a été validée sur la base des fractions de glace mesurée par calorimétrie différentielle à balayage. Les modifications des structures cellulaires diffèrent selon la vitesse de congélation des tissus de pomme, de même que les dimensions et les distributions de tailles de cristaux de glace formés. Des diamètres équivalents de cristaux de glace de l'ordre de 41, 55 et 71 µm ont été obtenus pour les vitesses de congélation respectivement rapide, intermédiaire et lente. Les résultats ont également montré que plus la taille des cristaux de glace était élevée, plus la structure était modifiée, en raison de l'agression subie par les parois cellulaires.

Détails

  • Titre original : Une nouvelle méthode de caractérisation de la microstructure interne de produits congelés.
  • Identifiant de la fiche : 30026851
  • Langues : Français
  • Source : Revue générale du Froid & du Conditionnement d'air - n.1171
  • Éditeurs : AFF (Association Française du Froid)
  • Date d'édition : 09/2018
  • Document disponible en consultation à la bibliothèque du siège de l'IIF uniquement.

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